<aside> 💡 불량 컴퓨터 칩의 표본 공간 : S = {0개 불량, 1개 불량 … n개 불량}
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<aside> 💡 동전 한 개를 던졌을 때의 표본공간 : S = {앞면, 뒷면}
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<aside> 💡 주사위 한 개를 던졌을 때의 표본공간 : S = {1, 2, 3, 4, 5, 6}
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<aside> 💡 주사위 두 개를 던졌을 때의 표본공간 : S = {⬇️}
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| (1, 1) | (1, 2) | (1, 3) | (1, 4) | (1, 5) | (1, 6) |
|---|---|---|---|---|---|
| (2, 1) | (2, 2) | (2, 3) | (2, 4) | (2, 5) | (2, 6) |
| (3, 1) | (3, 2) | (3, 3) | (3, 4) | (3, 5) | (3, 6) |
| (4, 1) | (4, 2) | (4, 3) | (4, 4) | (4, 5) | (4, 6) |
| (5, 1) | (5, 2) | (5, 3) | (5, 4) | (5, 5) | (5, 6) |
| (6, 1) | (6, 2) | (6, 3) | (6, 4) | (6, 5) | (6, 6) |
<aside> 💡 표본 공간 S = {O_1, O_2, O_3}로 구성된 실험에 대한 확률값 집합은 각각의 요소에 대한 확률값 p_1, p_2, p_3 (0 ≤ p_n ≤ 1, sum(p_{0 … n}) = 1)이며 O_i가 발생할 확률은 P(O_i) = p_i 로 표시한다.
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<aside> 💡 $P(A’) = 1.0 - P(A)$
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